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可編程高低溫試驗箱恒溫恒濕交變循環(huán)測試箱宇航志達小型高低溫恒溫恒溫試驗箱高低溫試驗箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下

貯存、運輸、使用時的適應性試驗；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐

寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感

、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗。

可編程高低溫試驗箱恒溫恒濕交變循環(huán)測試箱宇航志達小型高低溫恒溫恒溫試驗箱規(guī)格參數(shù)
內(nèi)部尺寸（W×H×D）50×60×50cm
外部尺寸：（W×H×D）110×146×127cm
溫度范圍：-20℃～+150℃    
濕度范圍：20%～98%RH     
溫度波動度：≤±0.5℃     
濕度波動度：≤ ±3.0%RH  
溫度均勻度：≤±2.0℃     
濕度均勻度：≤ ±2.5%RH   
溫度**度：0.01          
濕度**度：0.1    
升溫速度：約5.2℃/分鐘    
降溫速度：約1.2℃/分鐘

高低溫試驗箱滿足標準：

   GB/T2423.1～2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗。A：低溫試驗方法、試驗B：高溫試驗方法》.
三、執(zhí)行與滿足標準：
1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件；
2.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術(shù)條件；
3.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；
4.GB2423.1低溫試驗、試驗A

5.GB2423.2高溫試驗、試驗B. GB/T2423.34-2005高、低、溫度組合循環(huán)試驗。